Boundary Enhanced Semantic Segmentation for High Resolution Electron Microscope Images

Titel:: Boundary Enhanced Semantic Segmentation for High Resolution Electron Microscope Images
Dokumenttyp:: Konferenzbeitrag
Autor(en):: Pollach, Matthias; Schiegg, Felix; Ludwig, Matthias; Bette, Ann-Christin; Knoll, Alois
Kongress- / Buchtitel:: 2022 30th European Signal Processing Conference (EUSIPCO)
Verlag / Institution:: IEEE
Publikationsdatum:: 29.08.2022
Jahr:: 2022
Volltext / DOI:: doi:10.23919/eusipco55093.2022.9909919
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