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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Chen, Cuili; Pickert, Volker; Al-Greer, Maher; Jia, Chunjiang; Ng, Chong
Titel:
Localization and Detection of Bond Wire Faults in Multichip IGBT Power Modules
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Power Electronics
Jahr:
2020
Band / Volume:
35
Heft / Issue:
8
Seitenangaben Beitrag:
7804-7815
Volltext / DOI:
doi:10.1109/tpel.2020.2965019
Verlag / Institution:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
E-ISSN:
0885-89931941-0107
Publikationsdatum:
01.08.2020
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