Statistical dependence of pixel intensities for pattern recognition

Titel:: Statistical dependence of pixel intensities for pattern recognition
Dokumenttyp:: Konferenzbeitrag
Autor(en):: Ievgen Smielik and Klaus-Dieter Kuhnert
Stichworte:: ml
Dewey-Dezimalklassifikation:: 020 Bibliotheks- und Informationswissenschaften
Kongress- / Buchtitel:: IEEE International Conference on Industrial Technology
Jahr:: 2013
Nachgewiesen in:: Scopus
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