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- Titel:
PLaNe: Reverse Engineering of Planar Layouts to Gate-Level Netlists
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Putz, Maximilian; Ludwig, Matthias; Lippmann, Bernhard; Graeb, Helmut
- Kongress- / Buchtitel:
- 2023 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE)
- Verlag / Institution:
- IEEE
- Publikationsdatum:
- 24.10.2023
- Jahr:
- 2023
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/paine58317.2023.10317962
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