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- Titel:
Machine Learning in Advanced IC Design: A Methodological Survey
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Chen, Tinghuan; Zhang, Li; Yu, Bei; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Design & Test
- Jahr:
- 2023
- Band / Volume:
- 40
- Monat:
- February
- Heft / Issue:
- 1
- Seitenangaben Beitrag:
- 17-33
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/MDAT.2022.3216799
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