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- Titel:
On the Relation Between Reliability and Entropy in Physical Unclonable Functions
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Kulagin, Vasilii; Gutierrez, Sergio Vinagrero; Kilian, Tobias; Tille, Daniel; Schlichtmann, Ulf; Di Natale, Giorgio; Vatajelu, Elena-Ioana
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Design & Test
- Jahr:
- 2024
- Band / Volume:
- 41
- Heft / Issue:
- 6
- Seitenangaben Beitrag:
- 46-53
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/mdat.2024.3425791
- Verlag / Institution:
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- E-ISSN:
- 2168-23562168-2364
- Publikationsdatum:
- 01.12.2024
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