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- Titel:
Incorporating Graceful Degradation into Embedded System Design
- Autor(en):
- Glaß, Michael; Lukasiewycz, Martin; Haubelt, Christian; Teich, Jürgen
- Kongress- / Buchtitel:
- Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe (DATE)
- Verlagsort:
- Nice, France
- Jahr:
- 2009
- Seiten:
- 320--323
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