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Titel:

Design and validation of fault-tolerant embedded controllers

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Ghosh, Saurav Kumar; Dey, Soumyajjit; Goswami, Dip; Mueller-Gritschneder, Daniel; Chakraborty, Samarjit
Kongress- / Buchtitel:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
01.03.2018
Jahr:
2018
Print-ISBN:
9783981926309
Reviewed:
ja
Volltext / DOI:
doi:10.23919/date.2018.8342212
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