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Titel:

Lifetime Reliability Optimization for Embedded Systems: A System-Level Approach

Autor(en):
Glaß, Michael; Lukasiewycz, Martin; Haubelt, Christian; Teich, Jürgen
Seitenangaben Beitrag:
17--22
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the International Workshop on Reliability Aware System Design and Test (RASDAT)
Verlagsort:
Bangalore, India
Jahr:
2010
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