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- Titel:
Design of Fine-grained Sequential Approximate Circuits using Probability-aware Fault Emulation
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- David May, Walter Stechele
- Kongress- / Buchtitel:
- International Symposium on Low Power Electronics and Design
- Konferenzort:
- Rom
- Jahr:
- 2015
- Jahr / Monat:
- 2015-07
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