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- Titel:
Improving the Significance of Probabilistic Circuit Fault Emulations
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Textbeitrag / Aufsatz
- Autor(en):
- David May, Walter Stechele
- Stichworte:
- Soft Error Rate Estimation, RELY
- Dewey-Dezimalklassifikation:
- 620 Ingenieurwissenschaften
- Kongress- / Buchtitel:
- 20th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS)
- Jahr:
- 2014
- Jahr / Monat:
- 2014-07
- Monat:
- Jul
- Sprache:
- en
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Integrierte Systeme
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