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- Titel:
A Cross-Layer Technology-Based Study of How Memory Errors Impact System Resilience
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Veit Kleeberger, Christina Gimmler-Dumont, Christian Weis, Andreas Herkersdorf, Daniel Mueller- Gritschneder, Sani Nassif, Ulf Schlichtmann, Norbert Wehn
- Stichworte:
- VirTherm 3D
- Dewey Dezimalklassifikation:
- 620 Ingenieurwissenschaften
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Micro
- Jahr:
- 2013
- Band / Volume:
- Volume 33
- Jahr / Monat:
- 2013-07
- Monat:
- Jul
- Heft / Issue:
- Number 4
- Sprache:
- en
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Integrierte Systeme
- Format:
- Text
BibTeX