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- Titel:
Cross- Layer Dependability Modeling and Abstraction in Systems on Chip
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Vortrag / Präsentation
- Autor(en):
- Andreas Herkersdorf, Michael Engel, Michael Glaß, Jörg Henkel, Veit Kleeberger, Michael Kochte, Johannes Maximilian Kühn, Sani Nassif, Holm Rauchfuss, Wolfgang Rosenstiel, Ulf Schlichtmann, Muhammad Shafique, Mehdi Baradaran Tahoori, Jürgen Teich, Norbert Wehn, Christian Weis, Hans-Joachim Wunderlich
- Stichworte:
- VirTherm 3D
- Dewey-Dezimalklassifikation:
- 620 Ingenieurwissenschaften
- Kongress- / Buchtitel:
- Workshop on Silicon Errors in Logic – System Effects (SELSE)
- Jahr:
- 2013
- Jahr / Monat:
- 2013-03
- Monat:
- Mar
- Sprache:
- en
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Integrierte Systeme
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