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- Title:
Cross- Layer Dependability Modeling and Abstraction in Systems on Chip
- Document type:
- Konferenzbeitrag
- Contribution type:
- Vortrag / Präsentation
- Author(s):
- Andreas Herkersdorf, Michael Engel, Michael Glaß, Jörg Henkel, Veit Kleeberger, Michael Kochte, Johannes Maximilian Kühn, Sani Nassif, Holm Rauchfuss, Wolfgang Rosenstiel, Ulf Schlichtmann, Muhammad Shafique, Mehdi Baradaran Tahoori, Jürgen Teich, Norbert Wehn, Christian Weis, Hans-Joachim Wunderlich
- Keywords:
- VirTherm 3D
- Dewey Decimal Classification:
- 620 Ingenieurwissenschaften
- Book / Congress title:
- Workshop on Silicon Errors in Logic – System Effects (SELSE)
- Year:
- 2013
- Year / month:
- 2013-03
- Month:
- Mar
- Language:
- en
- TUM Institution:
- Lehrstuhl für Integrierte Systeme
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