Login
- Titel:
FeFET Reliability Modeling for In-Memory Computing: Challenges, Perspective, and Emerging Trends
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Thomann, Simon; Amrouch, Hussam
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Transactions on Electron Devices (TED)
- Jahr:
- 2023
- Band / Volume:
- PP
- Monat:
- 01
- Seitenangaben Beitrag:
- 1-7
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/TED.2023.3313112
BibTeX
Vorkommen:
- mediaTUM GesamtbestandEinrichtungenSchools TUM School of Computation, Information and TechnologyDepartmentsComputer EngineeringAI Processor Design (Prof. Amrouch)
- mediaTUM GesamtbestandEinrichtungenForschungszentrenMunich Institute of Robotics and Machine Intelligence (MIRMI) - The AI Mission Institute (AIM)