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- Titel:
Learning-Oriented Reliability Improvement of Computing Systems From Transistor to Application Level
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Ranjbar, Behnaz; Klemme, Florian; Genssler, Paul R.; Amrouch, Hussam; Jung, Jinhyo; Dave, Shail; So, Hwisoo; Lee, Kyongwoo; Shrivastava, Aviral; Lin, Ji-Yung; Weckx, Pieter; Mishra, Subrat; Catthoor, Francky; Biswas, Dwaipayan; Kumar, Akash
- Kongress- / Buchtitel:
- 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
- Jahr:
- 2023
- Seiten:
- 1-10
- Volltext / DOI:
- doi:10.23919/DATE56975.2023.10137182
BibTeX
Vorkommen:
- mediaTUM GesamtbestandEinrichtungenForschungszentrenMunich Institute of Robotics and Machine Intelligence (MIRMI) - The AI Mission Institute (AIM)
- mediaTUM GesamtbestandHochschulbibliographie2023Schools und FakultätenTUM School of Computation, Information and TechnologyAI Processor Design (Prof. Amrouch)