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- Titel:
Voltage Over-Scaling in Sequential Circuits for Approximate Computing
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- David May, Walter Stechele
- Stichworte:
- Soft Error Rate Estimation
- Dewey-Dezimalklassifikation:
- 620 Ingenieurwissenschaften
- Kongress- / Buchtitel:
- Design &Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
- Datum der Konferenz:
- April 12-14
- Jahr:
- 2016
- Jahr / Monat:
- 2016-04
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Integrierte Systeme
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