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Titel:

Evaluation of LDMOS Device's Behavior at Cryogenic Temperatures

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Zahra, Mohammad Abu; Repp, Jens; Hartmann, Michael; Brandl, Matthias; Brederlow, Ralf
Seitenangaben Beitrag:
181-184
Kongress- / Buchtitel:
2024 International Semiconductor Conference (CAS)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
09.10.2024
Jahr:
2024
Volltext / DOI:
doi:10.1109/cas62834.2024.10736762
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