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- Titel:
Temperature distribution in multichip IGBT module and its impact on collector current sharing
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Chen, Cuili; Pickert, Volker; Al-Greer, Maher; Wang, Zhiqiang; Knoll, Alois Christian
- Zeitschriftentitel:
- Microelectronics Reliability
- Jahr:
- 2023
- Band / Volume:
- 143
- Seitenangaben Beitrag:
- 114935
- Volltext / DOI:
- doi:10.1016/j.microrel.2023.114935
- Verlag / Institution:
- Elsevier BV
- E-ISSN:
- 0026-2714
- Publikationsdatum:
- 01.04.2023
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