- Titel:
Correctable Erasure Patterns in Product Topologies
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Holzbaur, Lukas; Puchinger, Sven; Yaakobi, Eitan; Wachter-Zeh, Antonia
- Kongress- / Buchtitel:
- IEEE International Symposium on Information Theory (ISIT)
- Ausrichter der Konferenz:
- IEEE
- Jahr:
- 2021
- BibTeX