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- Titel:
RAP Model—Enabling Cross-Layer Analysis and Optimization for System-on-Chip Resilience
- Dokumenttyp:
- Buchbeitrag
- Autor(en):
- Andreas Herkersdorf, Michael Engel, Michael Glaß, Jörg Henkel, Veit B. Kleeberger, Johannes M. Kühn, Peter Marwedel, Daniel Mueller-Gritschneder, Sani R. Nassif, Semeen Rehman, Wolfgang Rosenstiel, Ulf Schlichtmann, Muhammad Shafique, Jürgen Teich, Norbert Wehn, Christian Weis
- Seitenangaben Beitrag:
- pp 1-27
- Dewey-Dezimalklassifikation:
- 620 Ingenieurwissenschaften
- Buchtitel:
- Dependable Embedded Systems
- Band / Teilband / Volume:
- Part of the Embedded Systems book series (EMSY)
- Verlag / Institution:
- Springer
- Jahr:
- 2021
- Jahr / Monat:
- 2021-01
- Print-ISBN:
- 978-3-030-52016-8
- E-ISBN:
- 978-3-030-52017-5
- Sprache:
- en
- DOI:
- doi:https://doi.org/10.1007/978-3-030-52017-5_1
- WWW:
- https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-52017-5_1
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Integrierte Systeme
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