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Titel:

EffiTest2: Efficient Delay Test and Prediction for Post-Silicon Clock Skew Configuration under Process Variations

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Zhang, Li; Li, Bing; Shi, Yiyu; Hu, Jiang; Schlichtmann, Ulf
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Jahr:
2019
Monat:
April
Volltext / DOI:
doi:10.1109/TCAD.2018.2818713
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