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Titel:

Integrated Soft Error Resilience and Self-Test

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Erol Koser, Sebastian Krösche, Walter Stechele
Stichworte:
RELY
Dewey-Dezimalklassifikation:
620 Ingenieurwissenschaften
Kongress- / Buchtitel:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) 2016
Datum der Konferenz:
September 26-28
Jahr:
2016
Jahr / Monat:
2016-09
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Integrierte Systeme
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