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Titel:

Sizing of Analog Integrated Circuits using Symmetry Recognition

Dokumenttyp:
Report / Forschungsbericht
Autor(en):
M. Eick, K. Lu, H. Graeb
Dewey Dezimalklassifikation:
620
Beauftragende Einrichtung:
Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung
Publikationsdatum:
04.03.2010
Jahr:
2010
Seiten/Umfang:
15
Sprache:
en
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung
Format:
Text
Eingabe:
05.03.2010
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