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Titel:

A 30ns 16Mb 2b/cell Embedded Flash with Ramped Gate Time-Domain Sensing Scheme for Automotive Application

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Kiesel, Sebastian; Kern, Thomas; Wicht, Bernhard; Graeb, Helmut
Kongress- / Buchtitel:
International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)
Jahr:
2019
Monat:
April
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