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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Li, Bing; Hashimoto, Masanori; Schlichtmann, Ulf
Titel:
From Process Variations to Reliability: A Survey of Timing of Digital Circuits in the Nanometer Era
Zeitschriftentitel:
IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
Jahr:
2018
Band / Volume:
11
Monat:
feb
Seitenangaben Beitrag:
2-15
Volltext / DOI:
doi:10.2197/ipsjtsldm.11.2
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