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- Titel:
From Process Variations to Reliability: A Survey of Timing of Digital Circuits in the Nanometer Era
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Li, Bing; Hashimoto, Masanori; Schlichtmann, Ulf
- Zeitschriftentitel:
- IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
- Jahr:
- 2018
- Band / Volume:
- 11
- Monat:
- feb
- Seitenangaben Beitrag:
- 2-15
- Volltext / DOI:
- doi:10.2197/ipsjtsldm.11.2
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