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Titel:

Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer Dependability Modeling for Nanometer System-on-chip Resilience

Autor(en):
Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glaß, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Jörg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kühn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim
Zeitschriftentitel:
Microelectronics Reliability
Jahr:
2014
Band / Volume:
54
Monat:
jun
Heft / Issue:
6-7
Seitenangaben Beitrag:
1066-1074
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