Login
- Titel:
A Cross-Layer Technology-Based Study of How Memory Errors Impact System Resilience
- Autor(en):
- Kleeberger, Veit B.; Gimmler-Dumont, Christina; Weis, Christian; Herkersdorf, Andreas; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Schlichtmann, Ulf; Wehn, Norbert
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Micro
- Jahr:
- 2013
- Band / Volume:
- 33
- Monat:
- jul
- Heft / Issue:
- 4
BibTeX