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- Titel:
Characterization of Standard Cells
- Autor(en):
- Knoth, Christoph; Schlichtmann, Ulf
- Seitenangaben Beitrag:
- 93-106
- Kapitel Beitrag:
- 4.1
- Herausgeber:
- Dietrich, Manfred; Haase, Joachim
- Buchtitel:
- Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design
- Auflage:
- first
- Verlag / Institution:
- Springer
- Jahr:
- 2012
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