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- Titel:
Efficiently analyzing the impact of aging effects on large integrated circuits
- Autor(en):
- Lorenz, Dominik; Barke, Martin; Schlichtmann, Ulf
- Zeitschriftentitel:
- Microelectronics Reliability
- Jahr:
- 2012
- Band / Volume:
- 52
- Monat:
- aug
- Heft / Issue:
- 8
- Seitenangaben Beitrag:
- 1546-1552
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