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- Titel:
Lifetime Yield Optimization of Analog Circuits Considering Process Variations and Parameter Degradations
- Autor(en):
- Pan, Xin; Graeb, Helmut
- Seitenangaben Beitrag:
- 131-146
- Kapitel Beitrag:
- 6
- Herausgeber:
- Tlelo-Cuautle, Esteban
- Buchtitel:
- Advances in Analog Circuits
- Verlag / Institution:
- InTech
- Jahr:
- 2011
- Monat:
- feb
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