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- Author(s):
- Radetzki, Martin; Bringmann, Oliver; Nebel, Wolfgang; Olbrich, Markus; Salfelder, Felix; Schlichtmann, Ulf
- Title:
- Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme
- Editor:
- Martin Barke, Lars Hedrich, Domenik Helms, Kai Hylla, Michael Kärgel, Weiyun Lu, Björn Sander, Volker Schöber
- Book / Congress title:
- GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf
- Publisher:
- Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung, Wildbad Kreuth
- Year:
- 2010
- Month:
- sep
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