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- Autor(en):
- Radetzki, Martin; Bringmann, Oliver; Nebel, Wolfgang; Olbrich, Markus; Salfelder, Felix; Schlichtmann, Ulf
- Titel:
- Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme
- Herausgeber:
- Martin Barke, Lars Hedrich, Domenik Helms, Kai Hylla, Michael Kärgel, Weiyun Lu, Björn Sander, Volker Schöber
- Kongress- / Buchtitel:
- GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf
- Verlag / Institution:
- Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung, Wildbad Kreuth
- Jahr:
- 2010
- Monat:
- sep
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