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Titel:

Reliable Memristor-based Neuromorphic Design Using Variation- and Defect-Aware Training

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Gao, Di; Zhang, Li; Yin, Xunzhao; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf; Zhuo, Cheng
Kongress- / Buchtitel:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
Jahr:
2021
Monat:
November
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