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- Titel:
Monitoring of Aging in Integrated Circuits by Identifying Possible Critical Paths
- Autor(en):
- Lorenz, Dominik; Barke, Martin; Schlichtmann, Ulf
- Zeitschriftentitel:
- Microelectronics Reliability
- Jahr:
- 2014
- Band / Volume:
- 54
- Monat:
- jun
- Heft / Issue:
- 6-7
- Seitenangaben Beitrag:
- 1075-1082
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