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- Titel:
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Angione, F.; Appello, D.; Athavale, J.; Bellarmino, Nicolò; Bernardi, P.; Cantoro, Riccardo; Sio, C. De; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, Martin; Iaria, G.; Kilian, Tobias; Mariani, R.; Martone, Raffaele; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni; Reorda, Matteo Sonza; Sterpone, Luca; Tancorre, V.; Ugioli, R.
- Kongress- / Buchtitel:
- IEEE European Test Symposium ETS
- Jahr:
- 2022
- Monat:
- May
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