Benutzer: Gast  Login
Titel:

Error Correction for Partially Stuck Memory Cells

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Haider Al Kim, Sven Puchinger, and Antonia Wachter-Zeh
Stichworte:
flash memories, phase change memories, (partially) stuck cells, error correction, defective cells, partitioned cyclic codes, BCH code.
Kongress- / Buchtitel:
International Symposium on Problems of Redundancy in Information and Control Systems 2019, Moscow, Russia.
Verlag / Institution:
IEEE Xplore
Publikationsdatum:
20.02.2020
Jahr:
2019
Jahr / Monat:
2019-10
Monat:
Feb
Seiten:
pp. 87-92
Nachgewiesen in:
Scopus
Volltext / DOI:
doi:10.1109/REDUNDANCY48165.2019.9003352
 BibTeX