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Titel:

Phase interferometric particle imaging for simultaneous measurements of evaporating micron-sized droplet and nanoscale size changes

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Wu, Yingchun; Li, Haipeng; Brunel, Marc; Chen, Jia; Gréhan, Gérard; Mädler, Lutz
Zeitschriftentitel:
Applied Physics Letters
Jahr:
2017
Band / Volume:
111
Heft / Issue:
4
Seitenangaben Beitrag:
041905
Volltext / DOI:
doi:10.1063/1.4996363
Verlag / Institution:
AIP Publishing
E-ISSN:
0003-69511077-3118
Publikationsdatum:
24.07.2017
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