Benutzer: Gast  Login
Titel:

A RRAM Characterization System with Flexible Readout Operations using an Integrating ADC

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Jia, Ruolan; Pechmann, Stefan; Baroni, Andrea; Wenger, Christian; Hagelauer, Amelie
Kongress- / Buchtitel:
2023 18th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME)
Jahr:
2023
Seiten:
245-248
Volltext / DOI:
doi:10.1109/PRIME58259.2023.10161880
 BibTeX