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Autor(en):
Jekle, M., Hackenberg, S., Chen, X., Hussein, M., Müller, E., Sciurba, E., Begemann, J., Becker, T., Köhler, P.
Titel:
Auf dem Weg zu neuen Qualitätskennzahlen
Kongress- / Buchtitel:
Ergebnisse des Gemeinschaftsforschungsprojekts zur Backqualität von Weizenmehlen mit Analytik, Backversuchen und einem Qualitätsindex zur Vorhersage von Backergebnissen. Wissenschaftliches Symposium 2016 des VDM
Konferenzort:
Würzburg
Datum der Konferenz:
10.11.2016
Jahr:
2016
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