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Document type:
Buch 
Author(s):
Gawlina-Schmidl, Y. 
Editor:
Wachutka, G.; Schmitt-Landsiedel, D. 
Title:
Analyse ionenreduzierter Ausfallmechanismen in hochintegrierten CMOS-Speicherzellen 
Volume:
49 
Bookseries title:
Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik 
Publisher:
Shaker Verlag 
Publisher address:
Aachen 
Year:
2015 
Format:
Text