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- Titel:
Analyse ionenreduzierter Ausfallmechanismen in hochintegrierten CMOS-Speicherzellen
- Dokumenttyp:
- Buch
- Autor(en):
- Gawlina-Schmidl, Y.
- Herausgeber:
- Wachutka, G.; Schmitt-Landsiedel, D.
- Band / Teilband / Volume:
- 49
- Serientitel/Schriftenreihe:
- Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik
- Verlag / Institution:
- Shaker Verlag
- Verlagsort:
- Aachen
- Jahr:
- 2015
- Format:
- Text
BibTeX