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Original title:
Performance Prediction of Microcontrollers based upon integrated Technology Monitors
Translated title:
Performance-Vorhersage von Mikrocontrollern basierend auf integrierten Technologie-Monitoren
Author:
Kilian, Tobias
Year:
2025
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
TUM School of Computation, Information and Technology
Institution:
Entwurfsautomatisierung (Prof. Schlichtmann)
Advisor:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.)
Referee:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.); Sonza Reorda, Matteo (Prof., Ph.D.)
Language:
en
Subject group:
ELT Elektrotechnik
TUM classification:
ELT 272
Abstract:
Automotive microcontrollers (MCUs) are extensively tested. One critical test is the performance screening, in which the maximum clock frequency of the MCU is determined. Indirect monitors, such as ring oscillators (ROs), are used for this performance screening. This work presents the functional path ROs as an indirect monitoring structure used for performance screening. A holistic overview of the functional path ROs from pre-silicon implementation to post-silicon analysis is provided.
Translated abstract:
Mikrocontroller (MCUs) für die Automobilindustrie werden ausgiebig getestet. Ein wichtiger Test ist die Performance-Vorhersage, bei der die maximale Taktfrequenz der MCU ermittelt wird. Für diese Performance-Vorhersage werden indirekte Monitore, wie z.B. Ringoszillatoren (ROs), verwendet. In dieser Arbeit werden die Funktionspfad-ROs als indirekte Monitoring-Struktur für die Performance-Vorhersage vorgestellt und ein Überblick von der Implementierung bis zur Analyse solcher Strukturen gegeben.
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1739042
Date of submission:
10.04.2024
Oral examination:
18.02.2025
File size:
6486723 bytes
Pages:
142
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20250218-1739042-0-4
Last change:
14.03.2025
 BibTeX