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Originaltitel:
Performance Prediction of Microcontrollers based upon integrated Technology Monitors
Übersetzter Titel:
Performance-Vorhersage von Mikrocontrollern basierend auf integrierten Technologie-Monitoren
Autor:
Kilian, Tobias
Jahr:
2025
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
TUM School of Computation, Information and Technology
Institution:
Entwurfsautomatisierung (Prof. Schlichtmann)
Betreuer:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.)
Gutachter:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.); Sonza Reorda, Matteo (Prof., Ph.D.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik
TU-Systematik:
ELT 272
Kurzfassung:
Automotive microcontrollers (MCUs) are extensively tested. One critical test is the performance screening, in which the maximum clock frequency of the MCU is determined. Indirect monitors, such as ring oscillators (ROs), are used for this performance screening. This work presents the functional path ROs as an indirect monitoring structure used for performance screening. A holistic overview of the functional path ROs from pre-silicon implementation to post-silicon analysis is provided.
Übersetzte Kurzfassung:
Mikrocontroller (MCUs) für die Automobilindustrie werden ausgiebig getestet. Ein wichtiger Test ist die Performance-Vorhersage, bei der die maximale Taktfrequenz der MCU ermittelt wird. Für diese Performance-Vorhersage werden indirekte Monitore, wie z.B. Ringoszillatoren (ROs), verwendet. In dieser Arbeit werden die Funktionspfad-ROs als indirekte Monitoring-Struktur für die Performance-Vorhersage vorgestellt und ein Überblick von der Implementierung bis zur Analyse solcher Strukturen gegeben.
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1739042
Eingereicht am:
10.04.2024
Mündliche Prüfung:
18.02.2025
Dateigröße:
6486723 bytes
Seiten:
142
Urn (Zitierfähige URL):
https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20250218-1739042-0-4
Letzte Änderung:
14.03.2025
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