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Titel:

Modeling and simulation of an active restoring mechanism for high reliability switches in RF-MEMS technology

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation
Autor(en):
Künzig, T.; Schrag, G.; Iannacci, J.
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the 23rd European Sysmposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Kongress / Zusatzinformationen:
ESREF2012, October 1-5, Cagliari, Italy
Verlag / Institution:
Elsevier
Verlagsort:
Amsterdam
Jahr:
2012
Reviewed:
ja
Sprache:
en
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