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Document type:
Konferenzbeitrag 
Author(s):
Helmut D., Wachutka G., Groos G. 
Title:
ESD damage without failure, followed by EOS: A case study on automotive smart power IC's 
Book / Congress title:
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 
Date of congress:
18-20 September 2017 
Publisher address:
Berlin 
Year:
2017 
Year / month:
2017-09 
Month:
Sep 
TUM Institution:
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik 
Ingested:
16.10.2018