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- Titel:
Defect studies in as-deposited and processed nanocrystalline Si/SiO2 structures
- Autor(en):
- PROKES, SM; CARLOS, WE; VEPREK, S; al., et
- Zeitschriftentitel:
- PHYSICAL REVIEW B
- Jahr:
- 1998
- Band / Volume:
- 58
- Heft / Issue:
- 23
- Seitenangaben Beitrag:
- 15632-15635
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