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Titel:

STRUCTURAL AND SOME OTHER PROPERTIES OF SILICON DEPOSITED IN AN SICL4-H2 RF DISCHARGE

Autor(en):
IQBAL, Z; CAPEZZUTO, P; BRAUN, M; al., et
Zeitschriftentitel:
THIN SOLID FILMS
Jahr:
1982
Band / Volume:
87
Heft / Issue:
1
Seitenangaben Beitrag:
43-51
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