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Titel:

INVESTIGATION OF THE INITIAL-STAGES OF OXIDATION OF MICROCRYSTALLINE SILICON BY MEANS OF X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY

Autor(en):
GIMZEWSKI, JK; VEPREK, S
Zeitschriftentitel:
SOLID STATE COMMUNICATIONS
Jahr:
1983
Band / Volume:
47
Heft / Issue:
9
Seitenangaben Beitrag:
747-751
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