- Titel:
Comparative Numerical Analysis of the Robustness of Si and SiC PiN Diodes Against Cosmic Radiation-induced Failure
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Huang, Y.; Lechner, B.; Wachutka, G.
- Kongress- / Buchtitel:
- Proceedings of ICSCRM 2019
- Datum der Konferenz:
- 29. September- 04. Oktober
- Jahr:
- 2019
- BibTeX